无需校正即可实现亚埃分辨率叠层成像技术的突破性进展！
    电子显微镜的空间分辨率长久以来受限于磁透镜固有的像差问题，这推动了业界对像差校正电子显微镜的研发与应用。然而，这些高端设备不仅价格昂贵、结构复杂，而且操作和维护要求高，限制了其在更广泛领域的普及使用。近日，《Science》杂志上发表的一项由伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校的著名材料科学家Pinshane Huang（曾获得2018年美国斯隆研究奖，被誉为诺贝尔奖风向标）团队的研究成果颠覆了这一现状。
    研究人员开发出一种创新的未校正扫描透射电子显微镜（STEM）中的电子叠层成像技术，成功实现了高达0.44埃的超分辨率成像，超越了传统像差校正工具所能达到的标准分辨率，并且在被广泛应用的商业显微镜中，针对扭曲双层二硒化钨样品进行了演示性观测，揭示了单个原子细节。
    该技术利用会聚束电子衍射（CBED）模式收集数据，构建四维扫描透射电子显微镜数据集，通过计算手段消除像差影响，从而实现在未经校正的STEM中达到亚埃级别分辨率。此外，研究还发现，在不同会聚角条件下，这种新型叠层成像方法依旧能保持出色的分辨率性能，进一步拓宽了其应用范围。
    更为重要的是，Huang团队还展示了如何利用像差调控来创建优化的结构化探针，以提高叠层成像重建的质量、分辨率及剂量效率。这意味着，这项新技术不仅使得更多用户能够以较低成本获取亚埃级分辨率图像，同时为基于叠层成像的低剂量和三维成像开辟了新的可能。
    总之，这篇《Science》论文报道了一项突破性的研究成果，即利用未经校正的扫描透射电子显微镜结合电子叠层成像技术，成功实现了低于0.5埃的超高分辨率成像，这一成就有望大大降低亚埃分辨率显微成像的门槛，开启微观世界探索的新篇章。